设备介绍
纳米红外分析系统 仪器名称 纳米红外分析系统（原子力显微镜AFM） 主要用途 NanoIR3系统是一套集成了原子力显微镜和红外激光光源的设备，原子力显微镜系统可以用于获得样品表⾯的形貌图像，脉冲可调谐的红外激光光源则⽤于激发测试样品中的分子吸收，当样品在某一激光波数下吸收红外辐射时，样品会快速升温并形成样品局部快速热膨胀现象，当采⽤脉冲激光照射样品时，样品发生的热膨胀就会带动悬臂梁产生简谐振荡。通过采集悬臂梁振幅与激光脉冲的关系信号，然后通过进一步计算可以得到悬臂梁的振动振幅随激光波数的变化关系，最终得到样品对于红外激光的吸收光谱。红外激光光源还可以调谐到单一波数下对样品进⾏扫描，可同时获得样品的表⾯形貌、机械性能和红外吸收等信息。 技术指标 具有以下AFM成像模式：轻敲模式、相位成像、接触模式、侧向力显微镜、力调制模式、力校准模式，具备静电力显微镜和导电原子力显微镜功能。 扫描范围：XY方向50μm×50μm，Z方向>6μm；扫描分辨率：XY 0.2nm; Z:<0.1nm。 最大样品尺寸：直径25mm，高度7mm。 导电原子力显微镜：最大电流量程2.7μA；电流噪音<10pA。 具备红外成像和连续红外光谱采集功能。 红外光谱扫描范围：800-3600cm-1；光谱分辨率：800-2700cm-1范围1cm-1; 2700-3600cm-1范围4cm-1。 红外光谱图像空间分辨率：10nm。 实现探针自加热，加热温度可达400℃，加热速率10000℃/s。 实现100nm分辨率以下的相转变测量（熔点-温度曲线）。 可同时实现纳米微区形貌、温度分布以及热导率分布检测，分辨率100nm。 测试内容 扫描样品微区的AFM形貌图（接触模式、轻敲模式） 定波数扫描红外图像 定点采集红外光谱 纳米热学模式：样品微区纳米尺度热熔点测量（探针加热温度：室温-400摄氏度左右）；微区热熔点温度分布图以及热导率分布图。 导电模块：样品微区电流分布图测量
